Новости

28 октября 2019 г. в 15-00 в конференц-зале Административного корпуса Института физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН состоится заседание Ученого совета, на котором заведующий лабораторией эллипсометрии  к.т.н. Сергей Рыхлицкий сделает доклад «Эллипсометрия материалов и структур микро-, наноэлектроники и фотоники».